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日本HIOKI日置LCR测试仪

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日置LCR测试仪 3511-50,测量频率1kHz/120hz的LCR测试仪,高速测量:5ms(1kHz)或13ms(120Hz),高精度: ± 0.08%,内置比较器。i8O广州南创电子科技有限公司
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日置LCR测试仪 IM3523,测量频率40Hz - 200kHz的LCR测试仪,基本精度±0.05%,测量范围广(DC,40Hz~200kHz,5mV~5V,10μA~50mA),在比如C-D和ESR这样的混合测量条件下,可以以往产品10倍的速度不间断测试。,内置比较器和BIN功能,2ms的快速测试时间。i8O广州南创电子科技有限公司
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日本HIOKI LCR测试仪IM3533,测量频率1mHz〜200kHz的LCR测试仪,基本精度±0.05%,测量范围广(DC,40Hz~200kHz,5mV~5V,10μA~50mA)。在例如C-D和ESR这样的混合测量条件下,不间断测试,速度是我司以往产品的10倍。内置的低阻抗高精度模式可有效测量低感应或铝电解电容的等效串联电阻。,(测量速度是以往产品3522-50的10倍,大大提高了反复性和稳定性),专用模式,用于测量变压器线圈比率,互感系数和温度补偿DCR。频率扫描测试(仅IM3533-01),除标准0m/1m以外的2m/4m电缆设置。内置比较器和BIN功能,2ms的快速测试时间。i8O广州南创电子科技有限公司
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